環(huán)境試驗箱的應(yīng)用及選型

環(huán)境試驗的試驗場地應(yīng)能具有廣泛的代表性，能進(jìn)行盡可能多的試驗項目，并且應(yīng)與將來可能作戰(zhàn)的環(huán)境盡可能地接近。但是，環(huán)境試驗場往往與真實的使用環(huán)境存在差別。

環(huán)境試驗箱是用科技的手段模擬出自然環(huán)境氣候，對現(xiàn)代工業(yè)品所造成的破壞性，環(huán)境試驗箱的代表試驗有：低壓（高空）試驗、高溫試驗、低溫試驗、熱沖擊試驗、太陽輻射（日照）試驗、淋雨試驗、防潮試驗、防霉試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗等

環(huán)境試驗箱的選型

存在于地球表面及大氣層空間中的自然環(huán)境因素和誘發(fā)環(huán)境因素的種類，目前還無法統(tǒng)計出一個確切的數(shù)目，其中對工程產(chǎn)品（設(shè)備）的使用及壽命影響較大的因素不下十幾種。從事工程產(chǎn)品環(huán)境條件研究的工程師們將自然界存在以及人類活動所誘發(fā)的環(huán)境條件整理歸納為一系列的試驗標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，用以指導(dǎo)工程產(chǎn)品的環(huán)境及可靠性試驗。如指導(dǎo)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗GJB150――中華人民共和國國家軍用標(biāo)準(zhǔn)《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法》，指導(dǎo)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗的GB2423――中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法指南》等。因此，我們選擇環(huán)境及可靠性試驗設(shè)備時主要的依據(jù)是工程產(chǎn)品的試驗規(guī)范和試驗標(biāo)準(zhǔn)。

　　其次，為了規(guī)范試驗設(shè)備中環(huán)境試驗條件的容差，保證環(huán)境參數(shù)的控制精度，國家技術(shù)監(jiān)督機構(gòu)及各工業(yè)部門還制訂了一系列的環(huán)境試驗設(shè)備及檢測儀器儀表的檢定規(guī)程。如中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》，又如國家技術(shù)監(jiān)督局頒布實施的JJG190－89《電動振動試驗臺系統(tǒng)試行檢定規(guī)程》等。這些檢定規(guī)程也是選擇環(huán)境及可靠性試驗設(shè)備的重要依據(jù)，不符合這些檢定規(guī)程要求的試驗設(shè)備是不允許投入使用的。