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兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

  • 簡(jiǎn)要描述:兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域,可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷,做應(yīng)力篩選試驗(yàn),提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制
  • 品牌:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 訪問(wèn)次數(shù):869
  • 更新時(shí)間:2023-11-07
  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介:

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性,分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,本產(chǎn)品可做冷熱沖擊,也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域,可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷,做應(yīng)力篩選試驗(yàn),提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。

 

二、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

BS-40H

BS-80H

BS-150H

BS-200H

BS-252H

內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm)

400*350*300

500*400*400

600*500*500

600*600*550

700*600*600

外箱尺寸W*H*D(mm)

1100*1930*1450

1200*2000*1550

1300*1230*1670

1300*2500*1700

1400*2630*1750

重量(KG)

500

700

900

1100

1300

溫度范圍

 

(A-45℃  B-55℃  C-65℃    高溫區(qū):+60℃-150℃   低溫區(qū):-10℃--65℃  )

升溫時(shí)間(蓄熱區(qū))

RT-200℃約35min

降溫時(shí)間(蓄冷區(qū))

RT—70℃約55min

溫度回復(fù)/切換時(shí)間

≤5min   /  ≤10sec以內(nèi)

溫度精度/分布精度

±0.5℃     ±2.5% ℃

冷卻方式

風(fēng)、水冷式/雙斷壓縮機(jī)

電源

 AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 

三、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn):

         提籃式分為高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分,測(cè)試產(chǎn)品至于提籃中,沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行沖擊,測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式。

  • 高溫沖擊或低溫沖擊時(shí),zui大時(shí)間可達(dá)999H,zui大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
  • 冷卻采用二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為水冷式。
  • 可與電腦連接USB/RS232接口,可將溫度濕度曲線數(shù)據(jù)*記錄
  • 程序循環(huán):全部循環(huán)。zui多999回,部分循環(huán)、zui多99回

 

 

四、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn):

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫

5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

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